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測量儀器

膜厚評估

ZETA電位 · 粒徑 · 分子量

OPTM 系列顯微分光膜厚儀參考價：面議
OPTM 系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過絕對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學(xué)常數(shù)分析。可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各...
型號：廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：上海市對比

膜厚儀

2024/11/8 16:24:48318
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo 參考價：面議
ELSZ series的高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。...
型號：廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：上海市對比

ZETA電位粒徑分子量

2024/11/8 16:22:29318

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